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TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀

產(chǎn)品簡介:TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀是基于氣溶膠儀器設計的經(jīng)驗設計而成,使用簡單輕便,對顆粒能夠快速和準確的測量。

產(chǎn)品型號:TSI 3330

更新時間:2024-03-14

廠商性質(zhì):代理商

訪問量:627

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86-010-64127897

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產(chǎn)品介紹
TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀

是基于氣溶膠儀器設計的經(jīng)驗設計而成,使用簡單輕便,對顆粒能夠快速和準確的測量。

光學顆粒物粒徑譜儀產(chǎn)品簡介

TSI3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量?;赥SI40年氣溶膠儀器設計的經(jīng)驗,

本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和的電子處理系統(tǒng),從而得到高質(zhì)量和的數(shù)據(jù)。

同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。


美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品特點:


0.5微米時粒徑分辨率小于5%
粒徑通道用戶可調(diào)
檢測粒徑范圍:0.3-10微米,多16通道
顆粒物粒徑感應范圍:0.5至25 mm
檢測濃度范圍:0-3000 個 /cm3
彩色觸摸屏,直觀的用戶界面
滿足ISO 21501-01/04要求
輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度
收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
電池電量可供20小時的操作
多可存儲30000個數(shù)據(jù)
記錄每個樣品的溫度和壓力
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀技術參數(shù)
測量原則 :
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制:
zui高3,000個/ cm3 (3,000,000個/L)
質(zhì)量濃度 :
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑:
檢測粒徑范圍:0.3-10 mm
粒徑分辨率:0.5mm時5%(符合ISO 21501-01/04)
粒徑通道 :多16通道,用戶可調(diào) 

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