高溫的測量是通過測量光譜來得知的，根據(jù)黑體輻射的理論，用測出來的譜線擬合理論值即可得物體的溫度?；鶢柣舴蜉椛涠?Kirchhoff)，在熱平衡狀態(tài)的物體所輻射的能量與吸收的能量之比與物體本身物性無關(guān)，只與波長和溫度有關(guān)。按照基爾霍夫輻射定律，在一定溫度下，黑體必然是輻射本領(lǐng)大的物體，可叫作*輻射體。

在接觸測溫法中，應(yīng)用熱電偶和熱電阻溫度為廣泛，該方法的優(yōu)點是設(shè)備和操作簡單，測得的是物體的真實溫度等，其缺點是動態(tài)特性差，由于要接觸被測物體，所以對被測物體的溫度分布有影響，且不能應(yīng)用于甚高溫測量。非接觸測溫法主要以輻射測溫法為主。由于光譜發(fā)射率的影響，輻射測溫法無法測量到物體的真實溫度，只是分別為亮度溫度、顏色溫度、輻射溫度等。若想知道被測目標(biāo)的真實溫度，就需要對上述溫度進(jìn)行發(fā)射率修正，以往所采用的方法主要有發(fā)射率修正法、逼近黑體法、輔助源法、偏振光法。

多光譜(多波長)輻射測溫法(Multispectral Radiation Thermometry)是七十年代末才發(fā)展起來的非接觸測溫方法,它可以同時測量目標(biāo)的真實溫度及材料光譜發(fā)射率。在高溫材料、復(fù)合材料及燒蝕材料的溫度及熱物性測試方面極有前景的方法。多光譜測溫法是在一個儀器中制成多個光譜通道，利用多個光譜的物體輻射亮度測量信息，再對得到的數(shù)據(jù)處理而得到物體的溫度和材料光譜發(fā)射率。該方法不需輔助設(shè)備和附加信息，對被測對象亦無特殊要求，因而特別適合于高溫、甚高溫目標(biāo)的真溫及材料發(fā)射率的同時測量.盡管其理論還不夠完善，但在已有的應(yīng)用實踐中已表現(xiàn)出了的發(fā)展前景。

但是，現(xiàn)在我們都用溫度測量儀器來測量。

溫度測量儀表是測量物體冷熱程度的工業(yè)自動化儀表。早的溫度測量儀表，是意大利人伽利略于1592年創(chuàng)造的。它是一個帶細(xì)長頸的大玻璃泡，倒置在一個盛有葡萄酒的容器中，從其中抽出一部分空氣，酒面就上升到*內(nèi)。當(dāng)外界溫度改變時，*內(nèi)的酒面因玻璃泡內(nèi)的空氣熱脹冷縮而隨之升降，因而酒面的高低就可以表示溫度的高低，實際上這是一個沒有刻度的指示器。

溫度測量儀表的種類繁多，但可按作用原理，測量方法，測量范圍作如下分類：

按作用原理分類

溫度的測量是借助于物體在溫度變化時，它的某些性質(zhì)隨之變化的原理來實現(xiàn)的。但是，并不是任意選擇某種物理性質(zhì)的變化就可做成溫度計。用于測溫的物體的物理性質(zhì)要求連續(xù)、單值的隨溫度變化，不與其它因素有關(guān)，而且復(fù)現(xiàn)性好，便于測量。

目前按作用原理制作的溫度計主要有膨脹式溫度計、壓力式溫度計、電阻溫度計，熱電偶高慍計和輻射高溫計等幾種。它們是分別利用物體的膨脹，壓力、電阻、熱電勢和輻射性質(zhì)隨溫度變化的原理制成的。
按測量方法分類

溫度測量時按感溫元件是否直接接觸被測溫度場（或介質(zhì)）而分成接觸式溫度測量儀表（膨脹式溫度計，壓力式溫度計、電阻溫度計和熱電偶高溫計屬此類）和非接觸式溫度測量儀表（如輻射式高溫計）兩類。

接觸式測溫法的特點是測溫元件直接與被測對象相接觸，兩者之間進(jìn)行充分的熱交換，后達(dá)到熱平衡，這時感溫元件的某一物理參數(shù)的量值就代表了被測對象的溫度值。這種測溫方法優(yōu)點是直觀可靠，缺點是感溫元件影響被測溫度場的分布，接觸不良等都會帶來測量誤差，另外溫度太高和腐蝕性介質(zhì)對感溫元件的性能和壽命會產(chǎn)生不利影響。

非接觸測溫法的特點是感溫元件不與被測對象相接觸，而是通過輻射進(jìn)行熱交換，故可避免接觸測溫法的缺點，具有較高的測溫上限。此外，非接觸測溫法熱慣性小，可達(dá)千分秒，便于測量運動物體的溫度和快速變化的溫度。由于受物體的發(fā)射率、被測對象到儀表之間的距離以及煙塵、水汽等其他介質(zhì)的影響，這種測溫方法一般測溫誤差較大。

按測量溫度范圍分類

通常將測量溫度在600℃以下的溫度測量儀表叫溫度計，如膨脹式溫度計，壓力式溫度計和電阻溫度計等。測量溫度在600℃以上的溫度測量儀表通常叫高溫計，如熱電高溫計和輻射高溫計。